Vakuumbeschichtung: Anlagenautomatisierung — Meß- und...

Main
Engineering
Vakuumbeschichtung:...

Vakuumbeschichtung: Anlagenautomatisierung — Meß- und Analysentechnik

H. Birck, J. Moll (auth.), Prof. Dr. Gerhard Kienel (eds.)

0 / 0

คุณชอบหนังสือเล่มนี้มากแค่ไหน

คุณภาพของไฟล์เป็นอย่างไรบ้าง

ดาวน์โหลดหนังสือเพื่อประเมินคุณภาพของไฟล์

คุณภาพของไฟล์ที่คุณดาวน์โหลดมาเป็นอย่างไรบ้าง

Behandelt werden Messungen an dünnen Schichten während und nach der Beschichtung, Schichtdickenmeßverfahren, Verfahren der Dünnschichtanalyse sowie die Automatisierung von Vakuumbeschichtungsanlagen.

หมวดหมู่:

ปี:

1994

ฉบับพิมพ์ครั้งที่:

1

สำนักพิมพ์:

Springer-Verlag Berlin Heidelberg

ภาษา:

german

จำนวนหน้า:

368

ISBN 10:

3642635113

ISBN 13:

9783642635113

ซีรีส์:

VDI-Buch

ไฟล์:

PDF, 13.29 MB

IPFS:

,

german, 1994

หนังสือเล่มนี้ไม่สามารถดาวน์โหลดได้เนื่องจากมีคำร้องเรียนจากผู้ถือลิขสิทธิ์

Beware of he who would deny you access to information, for in his heart he dreams himself your master

— Pravin Lal

คุณอาจสนใจ

Hermann Beyer — Handbuch der Mikroskopie

Stefan Zimmermann (editor) — XXX. Messtechnisches Symposium

Paul Görlich — Optik und Spektroskopie aller Wellenlängen: Tagung der Physikalischen Gesellschaft in der Deutschen Demokratischen Republik, 27.–31. Oktober 1960 in Jena

— Kristall und Technik: Band 7, Heft 1-3

— Kristall und Technik: Band 7, Heft 11

Dieter Opielka (auth.), Wolfgang Schneider (eds.) — Optische Nachrichtentechnik: Grundlagen und Anwendungen

Dr. -Ing. Uwe Meyer (auth.) — Experimentelle Untersuchungen an der überströmenden Flüssigkeitsschicht in Vollmantelschleudern ohne Überlaufrand

Prof. Dr.-Ing. habil. Reinhold Paul (auth.) — Optoelektronische Halbleiterbauelemente

Friedemann Völklein, Thomas Zetterer (auth.), Prof. Dr.-Ing. Otto Mildenberger (eds.) — Einführung in die Mikrosystemtechnik: Grundlagen und Praxisbeispiele

Prof. Dr. techn. Gerhard Schiffner (auth.) — Optische Nachrichtentechnik: Physikalische Grundlagen, Entwicklung, moderne Elemente und Systeme

Friedrich-Wilhelm Bach, Kai Mohwald, Andreas Laarmann, Thomas Wenz — Moderne Beschichtungsverfahren

Rudolf W. Kessler — Prozessanalytik: Strategien und Fallbeispiele aus der industriellen Praxis

Klaus Richter (auth.) — Über eine Ballonsonde für Polarlichtmessungen und über den Vergleich von Polarlichtemissionen, Röntgenstrahlen und Ionosphärischen Absorptionen

Dr.-Ing. Ernst Lüder (auth.) — Bau hybrider Mikroschaltungen: Einführung in die Dünn- und Dickschichttechnologie

Dipl.-Ing. Wolfgang Schmutz (auth.) — Fluoreszenzmeßverfahren zur Schmierfilmdickenmessung in Wälzlagern

Dr. Wolfgang Rembges (auth.), Professor Dr. rer. nat. Wolfgang Bunk, Dr. rer. nat. Jörn Hansen, Dipl.-Ing. Hermann Haag (eds.) — Oberflächenbehandlung · Abrasivverschleiß

Dr. rer. nat. Günter Schumicki, Dr.-Ing. Peter Seegebrecht (auth.) — Prozeßtechnologie: Fertigungsverfahren für integrierte MOS-Schaltungen

Klaus Knödel, Heinrich Krummel, Gerhard Lange (auth.), Dr. Klaus Knödel, Dr. Heinrich Krummel, Dipl. Geophys. Gerhard Lange (eds.) — Geophysik

Dr. René A. Haefer (auth.) — Oberflächen- und Dünnschicht-Technologie: Teil II: Oberflächenmodifikation durch Teilchen und Quanten

Dr. rer. nat. Christian Werner, Dr. rer. nat. Volker Klein (auth.), Dr. rer. nat. Christian Werner, Dr. rer. nat. Volker Klein, Dr. rer. nat. Konradin Weber (eds.) — Laser in der Umweltmeßtechnik / Laser in Remote Sensing: Vorträge des 10. Internationalen Kongresses / Proceedings of the 10th International Congress

Dipl.-lng. Wolfgang Rauh (auth.) — Konturantastende und optoelektronische Koordinatenmeßgeräte für den industriellen Einsatz

Dipl.-Ing. Walter Olbrich (auth.) — Entwicklung und Optimierung von Prozeßkomponenten zur ionenunterstützten Abscheidung bei PVD-Verfahren

M. G. Anderson, T. P. Burt (auth.), Professor Dr. Andrew Goudie (eds.) — Geomorphologie: Ein Methodenhandbuch für Studium und Praxis

Edgar Voges, Klaus Petermann — Optische Kommunikationstechnik: Handbuch für Wissenschaft und Industrie

Dr. Werner Brügel (auth.) — Einführung in die Ultrarotspektroskopie

Dieter Lipinsky (auth.) — Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

Astrid Pundt — Nanoskalige Metall-Wasserstoff-Systeme

คำที่ถูกค้นหาบ่อยที่สุด